手機環境與可靠性測試儀器,全網搜索,你估計會需要

手機環境與(yu) 可靠性測試儀(yi) 器,全網搜索,你估計會(hui) 需要

raybet雷竞技网页版入口是一家高科技合資企業(ye) ,專(zhuan) 業(ye) 生產(chan) 銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱衝(chong) 擊機、振動試驗機、機械衝(chong) 擊機、跌落試驗機的環境試驗儀(yi) 器的公司，是一家具有研發生產(chan) 銷售經營各類可靠性環境試驗設備的公司。經驗豐(feng) 富，並得到許多國內(nei) 外廠商的信賴與(yu) 支持。現在我們(men) 成為(wei) 許多品牌的供應商。  

為(wei) 了提升手機產(chan) 品可靠性能力，各個(ge) 企業(ye) 投入了巨大的努力，從(cong) 產(chan) 品設計開發到生產(chan) 各個(ge) 環節，都在致力於(yu) 提高產(chan) 品可靠性。

了解了產(chan) 品的一般結構之後，在開始結構設計之前，需要清楚地知道產(chan) 品要達到上市的要求需要通過哪些測試，達到什麽(me) 樣的標準。

產(chan) 品可靠性測試(PRT)的目的是在特定的可接受的環境下不斷的催化產(chan) 品的壽命和疲勞度，可以在早期預測和評估產(chan) 品的質量和可靠性。產(chan) 品結構設計工程師必須通曉可靠性測試的所有標準，在設計階段就必須采取正確的設計和選擇合適的材料來避免後續產(chan) 品的質量和可靠性問題。產(chan) 品必須經過國家的可靠性測試，而且越來越嚴(yan) 格，要求也越來越高，這就對我們(men) 的設計提出了更高的要求。

影響產(chan) 品可靠性的極其重要的因素是環境。

環境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、衝(chong) 擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對電子產(chan) 品產(chan) 生不良影響。有資料顯示，電子產(chan) 品故障的52%失效是由環境效應引起：其中由溫度引起的占40%，由振動引起的占27%，由濕度引起的占19%，其餘(yu) 14%是砂塵、鹽霧等因素引發的故障。環境試驗作為(wei) 可靠性試驗的一種類型已經發展成為(wei) 一種預測產(chan) 品使用環境是如何影響產(chan) 品的性能和功能的方法。

在手機投入市場之前，環境試驗被用來評估環境影響手機的程度，當手機的功能受到了影響，環境試驗被用來查明原因，並采取措施保護手機免受環境影響以保護手機的可靠性，環境試驗也被用來分析手機在實際使用過程中出現的缺陷以及新產(chan) 品的改進。

嚴(yan) 格意義(yi) 上講，隻有通過了環境適應性試驗，滿足規定的條件，才能進行可靠性試驗，環境適應性試驗對於(yu) 保證手機的可靠性是非常有效的。

手機環境與(yu) 可靠性測試包括六個(ge) 部分：加速壽命測試、氣候適應測試、結構耐久測試、表麵裝飾測試、特殊條件測試，及其他條件測試。 

　　1.1. 加速壽命測試ALT (Accelerated Life Test)

　　樣機標準數量：

　　PR1：8台 PR2：10台 PR3：10台 PIR：10台

　　試驗周期：10-12天

　　測試目的： 通過連續的施加各種測試條件，加速產(chan) 品的失效，提前暴露潛在問題。

　　試驗流程： 見下圖，其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應不超過4小時;Temp/Humidity和2nd Drop測試的時間間隔應不超過4小時。每項測試完成都應進行表麵，外觀，結構和功能檢查。

　　測試標準：參數指標正常，功能正常。
 

　　1.1.1 室溫下參數測試 (Parametric Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的： 測試預檢查

　　測試方法：使用8960/8922測試儀(yi) ，對所有樣品進行參數指標預測試並保存測試結果。

　　測試標準：參數指標正常，功能正常。
 

　　1.1.2 溫度衝(chong) 擊測試(Thermal Shock)

　　測試環境：低溫箱：-30° C ;高溫箱：+10° C

　　測試目的：通過高低溫衝(chong) 擊進行樣品應力篩選

　　試驗方法：使用高低溫衝(chong) 擊箱，手機帶電池，設置成關(guan) 機狀態先放置於(yu) 高溫箱內(nei) 持續45分鍾後，在15秒內(nei) 迅速移入低溫箱並持續45分鍾後，再15秒內(nei) 迅速回到高溫箱。此為(wei) 一個(ge) 循環，共循環21次。實驗結束後將樣機從(cong) 溫度衝(chong) 擊箱(高溫箱)中取出，恢複2小時後進行外觀、機械和電性能檢查。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機表麵噴塗無異變，結構無異常，功能正常，可正常打電話。

　　1.1.3 跌落試驗(Drop Test)

　　測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。(對於(yu) PDA手機,根據所屬公司質量部門的建議可調整為(wei) 跌落高度為(wei) 1.3m)

　　測試目的： 跌落衝(chong) 擊試驗

　　試驗方法：將手機處於(yu) 開機狀態進行跌落。對於(yu) 直握手機，進行6個(ge) 麵的自由跌落實驗，每個(ge) 麵的跌落次數為(wei) 1次，每個(ge) 麵跌落之後進行外觀、結構和功能檢查。對於(yu) 翻蓋手機，進行8個(ge) 麵的自由跌落實驗;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落，另一半樣品在跌正麵和背麵時須打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。跌落結束後對外觀、結構和功能進行檢查。

　　試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。

　　1.1.4 振動試驗(Vibration Test)

　　測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz;振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz;

　　測試目的： 測試樣機抗振性能

　　試驗方法：將手機開機放入振動箱內(nei) 固定夾緊。啟動振動台按X、Y、Z三個(ge) 軸向分別振動1個(ge) 小時，每個(ge) 軸振完之後取出進行外觀、結構和功能檢查。三個(ge) 軸向振動試驗結束後，對樣機進行參數測試。

　　試驗標準：振動後手機內(nei) 存和設置沒有丟(diu) 失現象，手機外觀，結構和功能符合要求，參數測試正常，晃動無異響。
 

　　1.1.5 濕熱試驗(Humidity Test)

　　測試環境：60° C，95%RH

　　測試目的： 測試樣機耐高溫高濕性能

　　試驗方法：將手機處於(yu) 關(guan) 機狀態，放入溫濕度實驗箱內(nei) 的架子上，持續60個(ge) 小時之後取出，常溫恢複2小時，然後進行外觀、結構和功能檢查。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。
 

　　1.1.6 靜電測試(ESD)

　　測試條件：+/-4kV~+/-8kV。

　　測試目的： 測試樣機抗靜電幹擾性能

　　試驗方法：

　　將樣機設置為(wei) 開機狀態，檢查樣機內(nei) 存和功能。;使用功能正常)。將樣機放於(yu) 靜電測試台的絕緣墊上，並且用充電器加電使手機處於(yu) 充電狀態(樣機與(yu) 絕緣墊邊緣距離至少2英寸;兩(liang) 個(ge) 樣機之間的距離也是至少2英寸)。

　　打開靜電模擬器，調節放電方式，分別選擇+/-4kV(接觸放電)，~+/-8kV(空氣放電)，對手機部位連續放電10次，並對地放電。每做完一個(ge) 部位的測試，檢查手機功能、信號和靈敏度，並觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動關(guan) 機及其他異常現象。

　　樣機需在與(yu) 8922測試儀(yi) 建立起呼叫連接的狀態下進行各個(ge) 放電方式、級別和極性的測試。

　　試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現任何問題都要被計為(wei) 故障。

　　備注：靜電釋放位置的確定要依據產(chan) 品的具體(ti) 情況進行定義(yi) 。 

　　1.2.氣候適應性測試 (Climatic Stress Test)

　　樣品標準數量：一般氣候性測試 4 台; 惡劣氣候性測試 2 台。共8台。

　　測試周期：1 天。

　　測試目的： 模擬實際工作環境對產(chan) 品進行性能測試

　　測試流程：見下圖。

　　一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
 

　　A： 一般氣候性測試：

　　1.2.1.高溫/低溫參數測試(Parametric Test)

　　測試環境：-10° C /+55° C

　　測試目的：高溫/低溫應用性性能測試

　　試驗方法：將手機電池充滿電，手機處於(yu) 開機狀態，放入溫度實驗箱內(nei) 的架子上，調節溫度控製器到-10° C /+55° C。持續2個(ge) 小時之後在此環境下進行電性能參數和功能檢查。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機電性能參數指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。

　　測試環境：+45° C，95%RH

　　測試目的：高溫高濕應用性性能測試

　　試驗方法：將手機電池充滿電，手機處於(yu) 開機狀態，放入溫度實驗箱內(nei) 的架子上。持續48個(ge) 小時之後，然後在此環境下進行電性能檢查，檢查項目見附表1。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。
 

　　1.2.3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)

　　測試環境：-40° C /+10° C

　　測試目的：高溫/低溫應用性功能測試

　　試驗方法：將手機處於(yu) 關(guan) 機狀態，放入溫度實驗箱內(nei) 的架子上。持續24個(ge) 小時之後，取出，並放置2小時，恢複至常溫，然後進行結構，功能和電性能檢查。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。
 

　　B：惡劣氣候性測試

　　1.2.4.灰塵測試(Dust Test)

　　測試環境：室溫

　　測試目的：測試樣機結構密閉性

　　試驗方法：將手機關(guan) 機放入灰塵實驗箱內(nei) 。灰塵大小300目，持續3個(ge) 小時之後，將手機從(cong) 實驗箱中取出，用棉布和離子風槍清潔後進行檢查。對於(yu) 翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　試驗標準：手機各項功能正常，所有活動元器件運轉自如，顯示區域沒有明顯灰塵。
 

　　1.2.5.鹽霧測試(Salt fog Test)

　　測試環境：35° C

　　測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力

　　試驗方法：

　　溶液含量：5%的氯化鈉溶液。

　　將手機關(guan) 機放在鹽霧試驗箱內(nei) ，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來，以免溶液噴灑不均或有的表麵噴不到。

　　樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個(ge) 小時。實驗過程中樣機不得被中途取出，如果急需取出測試，要嚴(yan) 格記錄測試時間，該實驗需向後延遲相同時間。

　　取出樣機後，用棉布和離子風槍清潔，放置48小時進行常溫幹燥後，對其進行外觀、機械和電性能檢查。

　　試驗標準：手機各項功能正常，外殼表麵及裝飾件無明顯腐蝕等異常現象。
 

　　1.3.結構耐久測試 (Mechanical Endurance Test)

　　樣品標準數量：11 台。

　　測試周期：1 天。

　　測試流程：

　　測試標準：
 

　　1.3.1.按鍵測試(Keypad Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：按鍵壽命測試

　　測試數量：2台手機。

　　測試方法：將手機設置成關(guan) 機狀態固定在測試夾具上，導航鍵及其他任意鍵進行10萬(wan) 次按壓按鍵測試。進行到3萬(wan) 次、5萬(wan) 次、8萬(wan) 次、10萬(wan) 次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據不同機型進行確定並參考工程師的建議，應盡量不重複，盡可能多。

　　試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
 

　　1.3.2.側(ce) 鍵測試(Side Key Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：側(ce) 鍵壽命測試

　　測試數量：1台手機

　　測試方法：將手機設置成關(guan) 機狀態固定在測試夾具上，對側(ce) 鍵進行10萬(wan) 次按壓按鍵測試。進行到3萬(wan) 次、5萬(wan) 次、8萬(wan) 次、10萬(wan) 次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。

　　試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
 

　　1.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：翻蓋壽命測試

　　測試數量：4台手機。

　　測試方法：將手機設置成開機狀態，固定在測試夾具上，進行5萬(wan) 次開合翻蓋測試。進行到3萬(wan) 次、4萬(wan) 次、4. 5萬(wan) 次 、5萬(wan) 次時進行手機翻蓋彈性及功能一次。

　　試驗標準：5萬(wan) 次後，手機外觀，結構，及功能正常。
 

　　1.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：滑蓋壽命測試

　　測試數量：4台手機。

　　測試方法：將手機設置成開機狀態，固定在測試夾具上，進行5萬(wan) 次滑蓋測試。進行到3萬(wan) 次、4萬(wan) 次、4. 5萬(wan) 次 、5萬(wan) 次時進行手機滑蓋手感及功能一次。

　　試驗標準：5萬(wan) 次後，手機外觀，結構，及功能正常,滑蓋不能有鬆動(建議:垂直手機時不能有自動下滑的現象)
 

　　1.3.5. 重複跌落測試(Micro-Drop Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);1cm高度 ,20mmPVC板

　　測試目的：樣機跌落疲勞測試

　　測試數量：2台。

　　測試方法：手機處於(yu) 開機狀態，做手機正麵及背麵的重複跌落實驗，每個(ge) 麵的跌落次數為(wei) 20,000次。進行到1萬(wan) 次、1.5萬(wan) 次、1.8萬(wan) 次、2萬(wan) 次時各檢查對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。

　　測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。
 

　　1.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：充電器插拔]壽命測試

　　測試數量：2台手機。

　　試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界麵顯示正常後，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態下插拔充電3000次。進行到2000次、2500次和3000次時進行中間/結束檢查一次。

　　檢驗標準：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。
 

　　1.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：手機手寫(xie) 筆插拔壽命測試

　　測試數量：2台手機。

　　試驗方法：將手機處於(yu) 開機狀態，筆插在手機筆插孔內(nei) ，然後拔出，反複20，000次。進行到1萬(wan) 次、1萬(wan) 5千次、1萬(wan) 8千次、2萬(wan) 次時檢查手機筆插入拔出結構功能、外殼及筆是否正常。

　　檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。
 

　　1.3.8點擊試驗 (Point Activation Life Test)

　　試驗條件：觸摸屏測試儀(yi) (接觸墊徑為(wei) 3.15mm;硬度為(wei) 40deg的矽樹脂橡膠)

　　測試目的：觸摸屏點擊壽命測試

　　樣品數量：1台

　　試驗方法：將手機設置為(wei) 開機狀態，點擊LCD的中心位置250,000次，點擊力度為(wei) 250g;點擊速度：2次/秒;

　　檢驗標準：不應出現電性能不良現象;表麵不應有損傷(shang)
 

　　1.3.9劃線試驗 (Lineation Life Test)

　　試驗條件：觸摸屏測試儀(yi) ，直徑為(wei) 0.8mm的塑料手寫(xie) 筆或隨機附帶的手寫(xie) 筆

　　測試目的：觸摸屏劃線疲勞測試

　　樣品數量：1台

　　試驗方法：將手機設置為(wei) 關(guan) 機狀態，在同一位置劃線至少100,000次，力度為(wei) 250g;

　　滑行速度：60mm/秒

　　檢驗標準：不應出現電性能不良現象;表麵不應有損傷(shang)
 

　　1.3.10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試

　　測試數量：2台。

　　試驗方法：將電池/電池蓋反複拆裝2000次。進行到1500次、1800次和2000次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。

　　檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應無下陷、變形及磨損的現象，外觀無異常。
 

　　1.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：SIM卡拆裝壽命測試

　　測試數量：2台手機。

　　試驗方法：插上SIM卡，然後取下SIM卡，再重新裝上，反複1000次，每插拔100次檢查開機是否正常，讀卡信息正常。

　　檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guan) 正常，手機讀卡功能使用正常。
 

　　1.3.12. 耳機插拔測試(Headset Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：耳機插拔壽命測試

　　測試數量：2台手機。

　　試驗方法：將手機處於(yu) 開機狀態，耳機插在耳機插孔內(nei) ，然後拔出，反複3000次。進行到2000、2500次和3000次時各檢查一次。

　　檢驗標準：實驗後檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷(shang) ，使用耳機通話接收與(yu) 送話無雜音(通話過程中轉動耳機插頭)，耳機插入手機耳機插孔時不會(hui) 鬆動(可以承受得住手機本身的重量)。
 

　　1.3.13.導線連接強度試驗(Cable Pulling Endurance Test--Draft)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：導線連接強度測試

　　實驗方法：選取靠近耳塞的一段導線，將其兩(liang) 端固定在實驗機上，用10N±1N的力度持續拉伸6秒，循環100次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環次數)

　　檢驗標準：導線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。
 

　　1.3.14.導線折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test--Draft)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：導線折彎疲勞測試

　　實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線，將導線的兩(liang) 端固定在實驗機上，做0mm~25mm做折彎實驗3000次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環次數)

　　檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂，變形。
 

　　1.3.15.導線擺動疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test--Draft)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：導線擺動疲勞測試

　　實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力， 以180°的角度反複擺動耳機末端3000次。(其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環次數)

　　檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂。
 

　　1.4 表麵裝飾測試 (Decorative Surface Test)

　　測試周期：4 天。

　　樣品標準數量：每種顏色6 套外殼。

　　測試流程：
 

　　1.4.1.磨擦測試(Abrasion Test - RCA)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：印刷/噴塗抗摩擦測試

　　試驗方法：將最終噴樣品塗固定在RCA試驗機上，用115g力隊同一點進行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表麵噴塗。對於(yu) 表麵摩擦300cycles，側(ce) 棱摩擦150 Cycles。特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設計工程師共同確定。

　　檢驗標準：耐磨點塗層不能脫落，不可露出底材質地(對於(yu) 噴塗、電鍍、IMD);圖案或字體(ti) 不能缺損、不清晰(對於(yu) 絲(si) 印、按鍵)。
 

　　1.4.2.附著力測試(Coating Adhesion Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：噴塗附著力測試

　　試驗方法：選最終噴塗的手機外殼表麵，使用百格刀刻出100個(ge) 1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為(wei) 止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格麵，1分鍾後迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格麵油漆是否有脫落。

　　檢驗標準：方格麵油漆脫落應小於(yu) 3%，並且沒有滿格脫落。
 

　　1.4.3.汗液測試(Perspiration Test)

　　測試環境：60 oC，95%RH

　　測試目的：表麵抗汗液腐蝕能力

　　試驗方法：把濾紙放於(yu) 酸性(PH=2.6)溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表麵，確保試紙與(yu) 樣品噴漆表麵充分接觸，然後放在測試環境中，在24小時檢查一次，48小時後，將樣品從(cong) 測試環境中取出，並且放置2小時後，檢查樣品表麵噴漆。

　　檢驗標準：噴漆表麵無變色、起皮、脫落、褪色等異常。
 

　　1.4.4.硬度測試(Hardness Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　測試目的：表麵噴塗硬度測試

　　試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表麵從(cong) 不同的方向劃出3~5cm長的線條3~5條。

　　檢驗標準：用橡皮擦去鉛筆痕跡後，在油漆表麵應不留下劃痕。
 

　　1.4.5. 鏡麵摩擦測試(Lens Scratch Test)

　　測試環境: 室溫(20~25° C);

　　測試目的：鏡麵抗劃傷(shang) 測試

　　試驗方法：用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上，用載重(load)為(wei) 500g的力在樣品表麵往複劃傷(shang) 50次。

　　檢驗標準：鏡麵表麵劃傷(shang) 寬度應不大於(yu) 100μm(依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板)
 

　　1.4.6 紫外線照射測試(UV illuminant Test)

　　測試環境：50° C

　　測試目的：噴塗抗紫外線照射測試

　　試驗方法：在溫度為(wei) 50° C，紫外線為(wei) 340W/mm2的光線下直射油漆表麵48小時。試驗結束後將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時後檢查噴漆表麵。

　　檢驗標準：油漆表麵應無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現象。
 

　　1.5.1. 低溫跌落試驗(Low temperature Drop Test)

　　測試環境：-10° C

　　樣機數量: 3台

　　測試目的：樣機低溫跌落測試

　　試驗方法：將手機進行電性能參數測試後處於(yu) 開機狀態放置在-10° C的低溫試驗箱內(nei) 1小時後取出，進行1.2米的6個(ge) 麵跌落，2個(ge) 循環，要求3分鍾內(nei) 完成跌落，方法同常溫跌落。

　　檢驗標準：手機外觀，結構，功能和電性能參數符合要求。
 

　　1.5.2. 扭曲測試(Twist Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　樣機數量: 2台

　　測試目的：抗扭曲測試

　　試驗方法：將手機處於(yu) 開機狀態，固定在扭曲試驗機上，用2N m力矩反複扭曲手機1000次。對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
 

　　1.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　樣機數量: 2台

　　測試目的：抗坐壓測試

　　試驗方法：將手機處於(yu) 開機狀態，放置在坐壓試驗機上，用45Kg力反複擠壓手機1000次。 對於(yu) 滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。

　　檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
 

　　1.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);100g鋼球。

　　樣機數量: 2台

　　測試目的：鏡蓋強度測試

　　試驗方法：鏡蓋表麵：用100g鋼球，從(cong) 20cm高處，以初速度為(wei) 0的狀態，垂直打擊鏡蓋表麵。

　　檢驗標準：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損(允許有白點)， LCD功能正常。
 

　　1.6 其他條件測試

　　樣品標準數量：5 台。

　　測試周期：1 天。

　　測試流程:

　　測試標準：
 

　　1.6.1螺釘的測試(Screw Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　樣機數量: 3台

　　測試目的：螺釘拆裝疲勞測試

　　試驗方法：將手機平放在試驗台上用允許的最大扭矩(由設計工程師和生產(chan) 工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反複旋動螺釘10次.

　　檢驗標準：試驗中和完成後,螺紋沒有變形,損壞,滑絲(si) ,用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的鬆動,劃絲(si) ; 螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的鬆動,劃絲(si)
 

　　1.6.2掛繩孔強度的測試(Hand Strap Test)

　　測試環境：室溫(20~25° C);

　　樣機數量: 2台

　　測試目的：掛繩孔結構強度測試

　　試驗方法：將掛繩穿過掛繩孔並以2圈/秒的速率在垂直的平麵內(nei) 轉動100圈,

　　然後用拉力計以持續不斷的力拉手機的掛繩.

　　檢驗標準：手機的掛繩能容易的穿過掛繩孔(不借助於(yu) 特殊的工具); 轉動手機時,掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小於(yu) 12kgf (111N)

　　可靠性是指產(chan) 品在規定的條件下、在規定的時間內(nei) 完成規定的功能的能力。產(chan) 品在設計、應用過程中，不斷經受自身及外界氣候環境及機械環境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗設備對其進行驗證，這個(ge) 驗證基本分為(wei) 研發試驗、試產(chan) 試驗、量產(chan) 抽檢三個(ge) 部分。

　　1、其中氣候環境包含：高溫、低溫、高低溫交變、高溫高濕、低溫低濕、快速溫度變化、溫度衝(chong) 擊、高壓蒸煮(HAST)、溫升測試、鹽霧腐蝕(中性鹽霧、銅加速乙酸、交變鹽霧)、人工汗液、氣體(ti) 腐蝕(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接熱，沾錫性，防塵等級測試(IP1X-6X)，防水等級測試(IPX1-X8)、阻燃測試，UV老化(熒光紫外燈)、太陽輻射(氙燈老化、鹵素燈)等等;

　　2、其中機械環境包含：振動(隨機振動，正弦振動)、機械衝(chong) 擊、機械碰撞、跌落、斜麵衝(chong) 擊，溫濕度 振動三綜合、高加速壽命測試(HALT)、高加速應力篩選(HASS、HASA)、插拔力，保持力，插拔壽命，按鍵壽命測試、搖擺試驗、耐磨測試、附著力測試、百格測試等。

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• raybet雷竞技网页版入口是一家高科技合資企業(ye) ,生產(chan) 銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱衝(chong) 擊機、振動試驗機、機械衝(chong) 擊機、跌落試驗機的環境試驗儀(yi) 器的公司，研發生產(chan) 銷售經營各類可靠性環境試驗設備。經驗豐(feng) 富，並得到許多國內(nei) 外廠商的信賴與(yu) 支持。自公司成立以來,多次服務於(yu) 國內(nei) 外大學和研究所等檢測機構,如清華大學、蘇州大學、哈爾濱工業(ye) 大學、北京工業(ye) 大學、法國申美檢測、中科院物理所、中科院，SGS等**單位提供實施室方案和設備及其相關(guan) 服務。努力開發半導體(ti) 、光電、光通訊、航天太空、生物科技、食品、化工、製藥等行業(ye) 產(chan) 品所需的測試設備裝置。公司擁有一支的研發、生產(chan) 和售後隊伍，從(cong) 產(chan) 品的研發到售後服務，每一個(ge) 環節都以客戶的觀點與(yu) 需求作為(wei) 思考的出發點。

• 為(wei) 適應市場快速變化及客戶多樣化的要求，raybet雷竞技网页版入口研發了性能與(yu) 可靠性**JianHuTest產(chan) 品係列.從(cong) 精密零件到電腦資訊係統及有線無線通訊產(chan) 業(ye) ，均可提供高品質的設備與(yu) 完善的售後服務。

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• 　上海簡戶榮獲企業(ye) ，表明上海簡戶在技術、科技成果轉化、擁有自主知識產(chan) 權等方麵得到了國家的高度認可。簡戶一直秉承"服務以人為(wei) 本"的宗旨，為(wei) 廣大客戶提供精良的設備及優(you) 質的服務，提供的送貨上門、安裝調試、一年的設備保養(yang) 、終身維修，技術指導服務。始終如一的以"努力、合作、飛躍"的精神自我完善、不斷發展、讓客戶與(yu) 公司實現雙贏局麵。
  

• 簡戶是集設計、銷售、研發、維修服務等為(wei) 一體(ti) 的綜合集團公司，從(cong) 產(chan) 品的研發到售後服務，每一個(ge) 環節之間，都以客戶的觀點與(yu) 需求作為(wei) 思考的出發點，提供的環境設備。公司創始人從(cong) 事儀(yi) 器設備行業(ye) 20餘(yu) 年，經驗豐(feng) 富、資曆雄厚，帶領簡戶公司全體(ti) 同仁攜手共建輝煌明天。公司成立以來，積極投入電子電工，航空，航天，生物科技，各大院校，及科研單位等行業(ye) 所需的產(chan) 品測試設備裝置。
  

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• 簡戶擁有一支的研發、生產(chan) 和售後服務隊伍，從(cong) 產(chan) 品的研發到售後服務，每一個(ge) 環節都以客戶的觀點與(yu) 需求作為(wei) 思考的出發點，目前擁有博士學位2人，碩士5人，參與(yu) 環境試驗箱國家標準起草和發行。企業(ye) 製定標準，行業(ye) 裏通過ISO9001。是中國儀(yi) 器儀(yi) 表學會(hui) 會(hui) 員和理事單位。曾榮獲CCTV《中國儀(yi) 器儀(yi) 表20強品牌》殊榮，2010年入駐上海世博會(hui) 民企館。簡戶自創辦以來，參與(yu) 3項國家標準起草與(yu) 製定，獲得40+件原創知識產(chan) 權、軟著、集成電路)，6次獲得上海科技型中小企業(ye) 稱號，合作過3200+家合作客戶(其中世界500強高校600家)。
  

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• 簡戶儀(yi) 器今後必將牢記為(wei) 客戶提供優(you) 質產(chan) 品和服務的宗旨，不忘為(wei) 行業(ye) 貢獻前沿科學和技術的初心，再接再厲，砥礪前行！

• 【簡戶儀(yi) 器簡介:成立2005年，是一家研發，生產(chan) ，銷售及售後齊全的綜合性設備生產(chan) 單位，多次評為(wei) 科技型中小企業(ye) ，，客戶遍布高分子，汽車，半導體(ti) ，塑膠，五金，科研院校，第三方檢測等】

• 　　【公司總部】

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