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可靠性鑒定和驗收試驗方法

更新時間:2024-07-22      瀏覽次數:727

可靠性鑒定和驗收試驗方法

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一. 試驗類型的概念

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二.試驗類型的故障分類

在試驗過程中,出現下列任何一種事件即應判為(wei) 故障(故障判據):

(1)受試產(chan) 品或產(chan) 品的一部分喪(sang) 失一種或幾種功能;

(2)受試產(chan) 品或產(chan) 品的一部分性能參數超出產(chan) 品技術條件中允許 的範圍;

(3)受試產(chan) 品出現機械零部件、結構件或元器件的鬆動、斷裂等損壞狀態。

可靠性驗證試驗期間出現所有故障分為(wei) 關(guan) 聯故障和非關(guan) 聯故障。關(guan) 聯故障可進一步分責任故障和非責任故障。

(1)非關(guan) 聯故障:已經證實是未按規定的條件使用而引起的故障,或已經證實僅(jin) 屬某項將不采用的設計所引          起的故障。否則為(wei) 關(guan) 聯故障。

(2)非責任故障:非關(guan) 聯故障或事先已經規定不屬某個(ge) 特定組織提供的產(chan) 品的關(guan) 聯故障。否則為(wei) 責任故障。

(3)獨立故障:不是由於(yu) 另一產(chan) 品故障引起的故障,亦稱原發故障。

(4)從(cong) 屬故障:由另一產(chan) 品故障而引起的故障,亦稱誘發故障。

三. 統計試驗的基本類型及適用範圍

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四.指數分布統計試驗方案-概述及采用標準

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五.指數分布統計試驗方案-定時截尾試驗及示例

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例1:計算機的可靠性指標為(wei) 6000小時,低可靠性指標為(wei) 4000小時,生產(chan)

方和使用方的風險均為(wei) 10%。設計一個(ge) 鑒定試驗方案。

解1:已知:θ0 =6000;θ1=4000;β=α=10%

鑒別比:d=6000 ÷ 4000 = 1.5

查表可采用方案9,試驗時間為(wei) :

T= θ1×45=4000×45=180000小時

判據標準是在180000內(nei) 累計失效小於(yu) 37次,可通過鑒定試驗。

樣本量與(yu) 已知條件的關(guan) 係

1、鑒別比越小,觀測的樣本量越大。

2、風險率α、β越小,觀測的樣本量越大。

解2:根據GJB899附錄提供的以使用方風險β分別為(wei) 10%,20%,30%製定的

定時試驗方案,如希望試驗總時間不超過10倍的θ1,可選表中總試驗時間9.27一欄。

T=9.27×4000=37080小時

接收判據為(wei) 失效數小於(yu) 等於(yu) 5次,拒收為(wei) 大於(yu) 等於(yu) 6次

總試驗時間少於(yu) 標準試驗方案是因為(wei) 鑒別比增大,即θ0加大,

θ0=Dθ1=2.94*4000=11760。對研製方而言從(cong) 預計到元器件的指標選取都要提升,使設計不易實現。

MTBF驗證的樣品和時間規定鑒定試驗至少兩(liang) 台。驗收試驗樣本量至少兩(liang) 台或10%,不要超過20台,特殊常用全數抽取。

鑒定試驗中隻要有一台設備的累計試驗時間少於(yu) 全部受試設備平均值的一半,拒收。

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六.指數分布統計試驗方案-序貫試驗和全數試驗

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七.元器件失效率鑒定試驗-基本概念、標準、原則

失效率等級的初始鑒定試驗

1)失效率試驗所用的試驗樣品必須從(cong) 經過產(chan) 品標準規定的篩選條件篩選過的產(chan) 品

中抽取。按額定條件進行試驗時,其樣品數量一般不得少於(yu) 10個(ge) 。

2)對於(yu) 六級和低於(yu) 六級的試驗,額定條下的元件小時數應不少於(yu) 總元件小時數的

1/3;對於(yu) 高於(yu) 六級的試驗,額定條件的元件小時數應不少於(yu) 總元件小時的1 /10。

3)加速試驗 元件小時,按加速試驗的元件小時數乘以加速係數來計算。

4)定級試驗所需的試驗時間應不少於(yu) 1000小時。表中給出的48, 96, 240小時原則上隻適用加速壽命試驗。

5)定級試驗和升級試臉的置信度取60%或90%,維持試驗的置信度取10%.

GJB2649《電子元件失效率抽樣方案和程序》

GB1772《電子元器件失效率試驗方法》

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八.元器件失效率鑒定試驗-不同置信度和標準中的試驗抽樣方案及示例

例:對某元器件進行6級定級試驗,已知某一應力條件的加速係數為(wei) x=50,希望試驗在2000小時結束,如何進行失效率等級鑒定試驗?

分析:

1、選《失效率等級鑒定試驗抽樣表》,置信度60%的抽樣方案表,對應六級這一行。

2、產(chan) 品為(wei) 一般要求選置信度60%;(特殊要求可選90%)

3、六級中根據失效數有九個(ge) 抽樣方案(C=0~8)

       **失效判據C小,抽樣方案相對“嚴(yan) "嗎?

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a、常規數抽樣方案

取C=0,則試驗時間T=0.916×106=916000小時。正常抽樣樣品

數:916000/2000=458個(ge)

b、小子樣方案

確定常規試驗和加速試驗的比例;6級以下選1/3的常規試驗時 間。

(高於(yu) 6級時,不得低於(yu) 1/10)

常規試驗時間:T/3≈305340元件小時

需樣品:305340/2000=152.67

加速試驗時間:2T/3≈610670元件小時

需樣品:610670/(2000×50)=6.11

共需樣品:160=153+7

**小子樣抽樣方案加速係數τ=50是關(guan) 鍵

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九.元器件失效率鑒定試驗-維持試驗和一致性試驗

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十.威布爾分布的抽樣試驗-失效率λ(B10)考核抽樣

1、失效率λ(B10)抽樣

在實際應用中可靠壽命r=0.9是一個(ge) 重要時刻,威布爾抽樣主要

針對這一時刻。

2、可靠壽命t0.9 抽樣

長壽命低失效率產(chan) 品的評價(jia) (對10~15年失效低於(yu) 10%或更低的

產(chan) 品評價(jia) )

*上述兩(liang) 類試驗都是當失效數為(wei) 10%時的抽樣試驗

**注意選擇形狀參數m時,它們(men) 分別對應的早期、偶然、損耗期。

3、平均壽命(特征壽命)抽樣

失效率λ(B10)考核抽樣

:產(chan) 品壽命T服從(cong) m=0.3的威布爾分布,如以可靠壽命0.9時考核其

失效率 λ =10-6小時,希望試驗在3000小時左右結束,製定試驗方案。

分析:可采用《威布爾分布抽樣檢驗表》中的《失效率λ(B10)抽樣表》

1、試驗方案為(wei) 定時結尾,試驗時間約3000小時

2、與(yu) 6級( λ=100fit)定級試驗類似,主要用於(yu) 使用方的評價(jia) 抽樣。

1、查《失效率λ(B10)抽樣表》,對應m=0.3,失效率λ(B10)的

值:

B10=0.03160815/10-6=31608

計算試驗時間比

MB10 = (3000/31608)0.3 = 0.49339

2、查《失效率λ(B10)抽樣表》與(yu) 0.49339接近的數為(wei) 0.4967一欄

即:

樣品數n=44;接收數據:Ac=0;

試驗時間t=(0.4967)1/0.3×31608=3067小時

為(wei) 減少總試驗時間可參考案例1的方法

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可靠壽命t0.9的平均壽命抽樣試驗

例4:產(chan) 品壽命T服從(cong) m=3 的威布爾分布,考核批產(chan) 品10年(87600

小時),可靠度R=0.9時的可靠壽命,使用方風險β=0.1,希望試驗

在5000小時結束。

分析:采用《威布爾分布抽樣撿驗表》

1、威布爾抽樣方案要求m是已知常數,采用定時截尾壽命試驗

2、形狀參數m=3,滿足耗損失效的特點(正態分布);

(但從(cong) 考核時間看5000小時對10年壽命評價(jia) 應是早期或隨機失效)

3、該試驗僅(jin) 考慮使用方的風險,使用單位可廣泛用於(yu) 驗收

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1、計算可靠壽命與(yu) 試驗時間比:

t/t0.9=5000/87600=0.05707

2、查《可靠壽命t0.9抽樣表》;

形狀參數m=3的表上與(yu) 0.05707接近的數,無解,表明試驗規劃

的5000小時不夠。

3、增加試驗時間,可選時間比0.4781一欄,試驗樣品數200,Ac=0

試驗時間為(wei) :

87600×0.4781=41882小時

4、對於(yu) 壽命試驗樣品數量確定後試驗時間產(chan) 品也確定了。

***對長壽命產(chan) 品加速係數是減少試驗時間的基本條件

利用t0.9的平均壽命抽樣試驗評價(jia) MTBF

例5:產(chan) 品壽命T服從(cong) m=3的威布爾分布,考核批產(chan) 品10年(87600小時)

的MTBF,使用方風險ß=0.1,計算試驗時間和樣品數。

分析: 采用《威布爾分布抽樣檢驗表》

1、根據例4的計算結果用200個(ge) 試驗樣品,試驗時間41882小時,如何

減少時間和樣品數量?

2、選88個(ge) 樣品試驗,試驗時間為(wei) :

87600×0.6286=55065小時

3、根據tr=[2.302(lg 1/r)] / λ 公式計算

MTBF(t0.368=(2.302×0.4341)/ (1/87600)

=87538小時


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